Техническая база

  • Атомно-силовой микроскоп ИНТЕГРА Прима (НТМДТ).
  • Инвертированный оптический микроскоп Nikon-Ti, c TIRF режимом.
  • Биосенсор на основе поверхностных волн в одномерном фотонном кристалле, позволяющий измерять приращение поверхностного слоя с высокой чувствительностью.
  • Зондовая станция Cascade Microtech для измерения проводящих характеристик различных образцов.
  • Система сканирующей электронной микроскопии Merlin Carl Zеiss и элементного анализа Oxford Instruments, оснащенная микроманипуляторами.